AMAT投产22nm以后工艺掩模用蚀刻装置
发布日期:2010-10-06 点击数:
美国应用材料上市了支持22nm以后工艺的掩模用蚀刻装置“Centura Tetra X”。扩展了现有蚀刻装置“Tetra III”的功能,并将关键层加工尺寸的均一性(CDU)提高到了2nm。
据应用材料介绍,如果使用该装置,可实现二次图形(DP)技术及SMO(source-mask optimization)技术中尤其需要的、不依存于图形尺寸及图形密度的均匀蚀刻。另外,此次的装置可配备该公司独立开发的工艺实时监控等功能。使用实时监控功能后,能够精密控制硬掩模、MoSi及石英的蚀刻过程,能以较高的精度制造二元掩模及移相掩模。另外,应用材料还表示,此次的装置已在22nm掩模制造工序上使用,其性能已评测完毕。